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Sistema di misurazione dell'interferometro laser con precisione di 0,05 ppm e risoluzione di 1 nm

Informazioni di base

Luogo di origine:	La Cina
Marca:	UNIMETRO/CHOTEST
Certificazione:	CE
Numero di modello:	SJ6000

Quantità di ordine minimo:	1set
Prezzo:	Discussible
Imballaggi particolari:	contenitore di carta
Termini di pagamento:	T/T
Capacità di alimentazione:	100 mesi stabiliti

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Informazioni dettagliate

Nome del prodotto:	Sistema di misura dell'interferometro laser SJ6000	Campo di misura lineare:	0~80m
Risoluzione:	1 nm	Accuratezza di frequenza del laser:	0.05ppm
Temperatura operativa::	℃ (di 0-40)	Tasso dinamico di bloccaggio::	50KHz
Evidenziare:	sistema di misura dell'interferometro laser 0.05ppm , sistema di misura dell'interferometro laser 1nm , interferometro di misurazione di spostamento 1nm

Descrizione di prodotto

Sistema di misurazione con interferometro laser con precisione di 0,05 ppm e risoluzione di 1 nm

Panoramica del prodotto

L'interferometria laser è riconosciuta come un metodo di misurazione ad alta precisione e alta sensibilità che utilizza la lunghezza d'onda della luce come criterio, ampiamente utilizzata nella produzione di fascia alta. Il sistema di interferometro laser SJ6000 incorpora un generatore laser ad elio-neon ad alta frequenza di un fornitore statunitense, moduli di compensazione ambientale ad alta precisione, elaborazione avanzata del segnale di interferenza laser e un sistema di controllo computerizzato ad alte prestazioni.

Utilizzando la tecnologia di stabilizzazione della frequenza termica con modalità duale longitudinale laser e la progettazione di un percorso ottico di interferenza con parametri geometrici, l'SJ6000 fornisce un output laser stabile a lungo termine e ad alta precisione (0,05 ppm) entro circa 6 minuti, con potenti prestazioni anti-interferenza. Con vari moduli prismatici, misura linearità, angolo, rettilineità, planarità, perpendicolarità e analizza le caratteristiche dinamiche.

Caratteristiche principali

Misurazione ad alta precisione: Risoluzione su scala nanometrica utilizzando la tecnologia di interferometria laser; elimina le influenze ambientali con compensazione ad alta precisione; garantisce stabilità di frequenza a lungo termine; il design separato dell'interferoscopio previene la distorsione termica
Capacità di misurazione complete: Misura linearità, angolo, rettilineità, perpendicolarità e altri parametri geometrici; valuta l'accuratezza del posizionamento lineare e l'accuratezza del posizionamento ripetuto per macchine utensili CNC, CMM e apparecchiature di movimento di precisione
Compensazione automatica degli errori: Genera tabelle di compensazione degli errori per la calibrazione delle macchine utensili in base alle impostazioni dell'utente
Analisi dinamica: Esegue misurazioni dinamiche (curve spostamento-tempo, velocità-tempo, accelerazione-tempo), misurazione dell'ampiezza e analisi di frequenza per test di vibrazione e valutazione delle caratteristiche dinamiche
Standard integrati: Include standard GB, ISO, BS, ANSI, DIN, JIS; genera rapporti di prova completi con grafici e dati
Monitoraggio ambientale: Acquisisce automaticamente parametri di temperatura, umidità e pressione con compensazione manuale o automatica
Gestione database: Database centralizzato per i record di misurazione con capacità di query ed esportazione in file Word, Excel, AutoCAD
Design portatile: Sistema leggero da 15 kg per una comoda portabilità

Specifiche tecniche

Parametri di sistema	Sensori ambientali
Metodo di misurazione: Singola frequenza Precisione della frequenza laser: 0,05 ppm Frequenza di acquisizione dinamica: 50 kHz Tempo di riscaldamento: ~6 minuti Temperatura operativa: 0-40°C Ambiente: 0-40°C, 0-95% di umidità Temperatura di stoccaggio: da -20°C a 70°C	Temperatura atmosferica: ±0,1°C (0-40°C), risoluzione 0,01°C Temperatura del materiale: ±0,1°C (0-40°C), risoluzione 0,01°C Umidità atmosferica: ±5% (0-95%) Pressione atmosferica: ±0,1 kPa (65-115 kPa)

Misurazione lineare	Misurazione angolare
Intervallo di misurazione: 0-80 m Precisione di misurazione: 0,5 ppm (0-40°C) Risoluzione: 1 nm Velocità massima: 4 m/s	Intervallo assiale: 0-15 m Intervallo di misurazione: ±10° Precisione: ±(0,02%R+0,1+0,24M)″ Risoluzione: 0,1″ R = valore indicato (″), M = lunghezza misurata (m)

Misurazione di planarità
Intervallo assiale: 0-15 m	Intervallo di misurazione: ±1,5 mm
Precisione: ±(0,2%R+0,02M²) μm	Risoluzione: 0,1 μm
Dimensioni substrato: 180 mm regolabile, 360 mm regolabile
R = valore indicato (μm), M = lunghezza misurata (m)

Misurazione di rettilineità	Rettilineità corta	Rettilineità lunga
Intervallo asse	0,1-4 m	1-20 m
Intervallo di misurazione	±3,0 mm	±3,0 mm
Precisione	±(0,5+0,25%R+0,15M²) μm	±(5,0+2,5%R+0,015M²) μm
Risoluzione	0,01 μm	0,01 μm
R = valore indicato (μm), M = lunghezza misurata (m)

Misurazione di perpendicolarità	Rettilineità corta	Rettilineità lunga
Intervallo asse	0,1-3 m	1-15 m
Intervallo di misurazione	±3,0 mm	±3,0 mm
Precisione	±(2,5+0,25%R+0,8M) μm/m	±(2,5+2,5%R+0,08M) μm/m
Risoluzione	0,01 μm	0,01 μm
R = valore indicato (μm), M = lunghezza misurata (m)

Prodotto Tag:

Sistema di misurazione dell'interferometro laser con precisione di 0,05 ppm e risoluzione di 1 nm

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